ZETA电位分析仪简介

ZETA电位分析仪简介：

Nicomp Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有*技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有*优势。

技术优势

1、高灵敏度PMT检测器；

2、可搭配不同功率光源；

3、准确度高，接近样品真实值；

4、可测试水相及有机相样品的粒度及Zeta电位；

5、快速检测，可以追溯历史数据；

6、结果数据以多种形式和格式呈现；

7、符合USP,CP等个多药典要求；

8、无需校准；

9、复合型算法：

（1）高斯（Gaussion）正态粒度分布与*的Nicomp多峰分布算法自由切换

（2）频率（Frequency）Zeta电位分析法与*的相位（Phase）分析法自由切换

10、模块化设计便于维护和升级；

（1）可自动稀释模块（选配）；

（2）自动进样系统（选配）；

（3）搭配多角度检测器（选配）；

ZETA电位分析仪

http://www.labeach.cn/SonList-2245201.html

https://www.chem17.com/st478632/erlist_2245201.html

原文链接：http://www.lingmov.com/shangji/show-27199.html，转载和复制请保留此链接。
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